• DDR4控制笔记


     

    DDR4接口
          A[17:0]     input

                             为激活命令提

    供行地址,为读、写命令地址输入:提供列地址,也为模式寄存器设

    置提供操作码,A[16]只用于8Gb和16Gb,A[17]只用于16Gb,另外 

    (A10/AP, A12/BC_n, WE_n/A14, CAS_n/A15, RAS_n/A16还有一些别

    的功能)                               

    A10/AP input 

     自预充电(Auto precharge):在读写命令期间采样A10,决定是

    否对访问的Bank在读写操作之后进行Auto Precharge,高电平表示进

    行Auto Precharge,低电平表示不进行Auto Precharge。

    另外PRECHARGE命令期间也会对A10进行采样,来决定是对一个(A10为

    低电平)Bank进行还是对所有的Banks(A10为高电平)进行PRECHARGE,

    如果选择一个,则选择的Bank由Bank组和Bank地址决定     

    A12/BC_n input

    突发突变(Burst chop):在读和写命令期间对A12/BC_n进行采样,

    来决定是否进行突发突变,高电平表示进行,低电平表示不进行.具体

    可以查看命令真值表

    ACT_n   input    

    命令输入(command input):ACT_n用于指示激活命令。当ACT_n(与CS_n)是低电平时,输入RAS_n/A16,CAS_n/A15, 和WE_n/A14 看作行地址用于激活命令。

    当ACT_n为高电平(CS_n为低)时,RAS_n/ A16, CAS_n/A15, and WE_n/A14,用作RAS_n, CAS_n,和WE_n

    BA[1:0]     input

    Bank地址输入(bank address inputs):指示被ACTIVTE,READ,

    WRITE或者PRECHARGE命令操作的Bank。另外用作指示在MODE REGISTER

    SET命令期间要访问的模式寄存器

    BG[1:0]   input

    Bank组地址输入(Bank group address inputs):指示被ACTIVTE,

    READ,WRITE或者PRECHARGE命令操作的Bank组。另外用作指示在MODE REGISTER SET命令期间要访问的模式寄存器,BG[1:0]用于x4和x8配

    置,而BG[1]不用于x16配置

    C0/CKE1,

    C1/CS1_n,

    C2/ODT1

    input Stack address inputs:

    CK_t,

    CK_c,

    input

    时钟:差分时钟输入,所有的地址,命令和控制输入信号在CK_t和

    CK_c的低电平被采样  

    CKE input

    时钟使能:高电平激活,低电平禁止内部时钟信号,输入缓存和输

    出驱动。拉低CKE提供PRECHARGE,POWER_DOWN和SELF REFRESH操作。

    CKE在读写期访问期间必须保持HIGH,

    CS_n input 片选

    DM_n,

    UDM_n,

    LDM_n

    input

    输入数据Mask:用于写数据,DM在DQS的双沿采样,DM不支持x4配置,

    UDM_n用于x16的高8位,LDM_n用于x16低8位,

    ODT

    input

    On-die termination:ODT为高电平时使能内部终端电阻到DDR4.当使

    能时,ODT(Rtt)只用于x4和x8的DQ, DQS_t,DQS_c,

    DM_n/DBI_n/TDQS_t, 和TDQS_c信号(当TDQS功能通过模式寄存器

    使能)。对于x16配置,Rtt应用于DQ, DQSU_t, DQSU_c, DQSL_t,

    DQSL_c, UDM_n,和 LDM_n信号,如果模式寄存器禁止Rtt,ODT脚将

    被忽略。

    PAR INPUT  

    RAS_n/A16,

    CAS_n/A15,

    WE_n/A14

    INPUT

    命令输入:

    RESET_n

    input 低电平异步复位:

    TEN

    input 连通性测试模式:高电平有效,低电平无效

    DQ

    IO

    数据输入输出 :对于x4,x8和x16分别代表DQ[3:0],DQ[7:0]和

    DQ[15:0].如果在模式寄存器中使能了写CRC,写CRC会添加在写

    突发的后面

    DBI_n,

    UDBI_n,

    LDBI_n

    I/O

    DBI输入输出:数据总线翻转。DBI_n用于x8,UDBI_n用于x16的

    高8位,LDBI_n用于x16的低8位。不支持x4。通过模式寄存器可

    以配置DBI用于读和写操作。

    DQS_t,

    DQS_c,

    DQSU_t,

    DQSU_c,

    DQSL_t,

    DQSL_c,

    IO

    数据选通:输入用于写数据输出用于读数据。与输出数据边沿对

    齐,与输入数据中心对齐,DQS用于x4,x8,DQSU用于x16高8位,

    DQSL用于x16低8位。DDR4只支持差分数据选通,不支持单端数据

    选通道。

    ALERT_n

       

    TDQS_t,

    TDQS_c

    output

    终端数据选通道:TDQS只用于x8 DRMAs.如果在模式寄存器使能该功能,DRAM会在TDQS_t和TDQS_c使能与DQS_t和DQS_c同样

    的Rtt终端电阻。当TDQS功能通过模式寄存器禁止,DM/TDQS_t脚会提供DATA MASK(DM)功能,TDQS_c脚不使用。对于x4和x16模式,

    必须禁止TDQS功能。DM功能只支持x8和x16配置

    ZQ

    参考 外部通过240欧姆电阻连接到VssQ

     

     

     

    Bank与Bank 组的区分

     

    这是从DDR4框图中截取的一部分。该DDR总共有16个Bank,每4个Bank组成一个Bank组。

    READ Buust操作

    DDR4 读命令支持突发长度为BL8,BC4两种,或者OTF(实时修改BL8和BC4)。这由A12来控制

    .A12 = 0 ,BC4(BC4 = burst chop)

    .A12 = 1 ,BL8

     

     

     

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