理想情况下, 当相机对均匀的目标成像时, 得到图像中所有像素点的灰度值理论上应该是相同的. 然而, 实际上图像中各像素的值往往会有较大差异.
这一般是由以下几个原因造成:
（1）光照不均匀
（2）镜片中心和镜片边缘的响应不一致
（3）成像器件各像元响应不一致
（4）固定的图像背景噪声等等．
所谓的平场校正就是校正传感器芯片上这些不一致性．
通常对于单个像元，其响应灰度值与入射光强度程线性关系．但由于上面所讲的原因，传感器上不同像元对入射光的响应是不同的直线，他们起点不同，斜率也会有差别．
平场校正就是通过改变每个像元响应直线的斜率（即信号增益Gain）和偏移（即信号偏移量Offset），使所有像素点的响应直线相同．
最常用的平场校正方法是”两点校正法”，该方法的前提就是探测器像元为线性响应．首先相机对暗场进行一次曝光，得到每个像元的偏移（Offset）；
接下来对均匀光照条件下的灰度均匀物体进行一次成像，得到均匀场图像，最好能够使图像中所有的点都接近最大的灰度值；
最后用均匀光场图像减去暗场图像，用相对标定的方法对图像增益（Gain）进行校正。