Channel1 在enable状态下，使用UEID-A校验成功，使用UEID-B校验失败；
Channal1 在enable状态下，使用UEID-A校验失败，使用UEID-B校验成功；
Channal1 在enable状态下，使用UEID-A校验成功，不使用UEID-B校验；
Channal1 在enable状态下，不使用UEID-A校验，使用UEID-B成功；
Channal1 在enable状态下，使用UEID-A校验成功，使用UEID-B校验成功；？
Channal1 在enable状态下，使用UEID-A校验失败，使用UEID-B校验失败；？
其他Channel照此法操作。
上面的feature体现了DUT在接受（实质上正确和错误的）输入数据时，分别遍历UEID-A和UEID-B相关的算法路径和硬件资源，遍历了pass和fail的相关算法路径和硬件资源，都能够得出与c-model一致的结果。
归根结底，vPlan中的feature to test要体现design的设计初衷！