在scan stitch之后，scan synthesis就已经完成，
Scan extraction主要用来从scan design中extracing所有的instance，来保证scan chain的完整性。
并保证所有的design change都整合到scan design。
Scan Verificaiton
1)在shift operate中的hold time violation，如果两个scan cell是同时钟，需要由CTS来保证clock skew有一个
minimum的值。如果clock属于异步clock，需要插入lock_up latch。
2)错误的scan initialization sequence，不能进入test mode。
3)不完整的scan design rule的check和repair，reg的set/reset以及clock的enable/gate等。
4)scan synthesis的错误，将positive放在negative之前等。
scan capture操作可能会在zero_delay和full_timing之间有mismatch。
Verifying the scan shift operate：
使用一种flush test的测试用例，用full_timing的simulator，来保证数据从scan input到scan output的时钟数相同。
为了保证clock skew也满足要求，用例使用"01100"这样的数值，包含0-0，0-1，1-0，1-1所有的场景。
为了快速定位错误的scan cell的位置，flush testbench需要有可以observe到内部scan cell的处理。
1)scan hold time violation in different clock，Lock-up latch插入。
如果一条scan chain中有多个clock，每个clock之间的latency不同，design要求，保持在半个cycle之内，
所以加入一个negative的latch可以解决这个问题。
2)scan hold time和setup time in same clock，CTS redone或者插入buffer。
3)保证所有的negative-edge都在positive-edge前边，或者加入lock-up FF。
Verify the scan Capture operate：
1)通常应用一个broadside-load的testbench，直接将整个test pattern移动到scan cell中，只包含一个clock的
shift cycle和一个clock的capture cycle。
目前也都可以通过STA的方式来进行scan shift和scan capture的verify。
Scan Design Costs：
1)area overhead cost，包括两部分，scan cell与FF的替换，以及scan routing的部分。
2)I/O pin cost，包括一个dedicate test mode pin(可以通过一个initial sequence来避免)
以及I/O的shared with function。
3)performance degradation cost，增加了functional path的delay。
4)Design effort cost，在正常flow之外还需要进行design rule checking and repair，scan synthesis，
scan extraction，scan verification。
scan design的其他purpose：
总结来看，有enhanced scan，snapshot scan，error_resilient scan，system debug，soft error protection。
1)enhanced design，增加的delay fault detection。其中一种结构中增加一个Latch，每次锁存两bit的数据。
同时做STA时，也会增加很多false path。
2)Snapshot Scan，可以在不打断logic的functional operation的同时，capture到internal states of element。
设计通过在需要的storage element上增加scan cell来实现(不是替换)，这样的设计叫做，scan set。
RTL DESIGN FOR TESTABILITY：
由于time-to-market的关系，越来越多的testability issues希望在RTL阶段得到fixed。
通过在netlist进行testability repair来，形成一个环路，每做一次testability repair需要进行重新DC。