实验六，版图
6.1 实验背景
6.2 实验内容
- 搭建CMOS反相器原理图并仿真验证
- 绘制反相器版图
- 进行DRC，LVS检查
6.3 实验过程
- 如下图所示绘制反相器原理图，NMOS设置W=2um，L=1um，finger=2，PMOS设置W=4um，L=1um，finger=2
- 设置激励条件，进行瞬态仿真
- 在做版图之前需要先把工艺库和Library进行attach，否则创建Layout时显示不出Layer
- 创建Layout
- 从原理图导入Instance
- 导入后的Instance如下图所示（只显示为红框符号），想要查看Layout需要通过Shift+F快捷键进行切换
- 这里的NMOS和PMOS都没有显示B极，需要选中Instance后按q进行修改，可以设置衬底在Instance周围的位置（Left、Right、Bottom、Top）
- 为了便于进行布线，在LSW界面中勾选Valid，Used，Routing选项，这样就只剩下了7个Layer，根据反相器的原理进行版图的绘制，并添加Label
- 运行DRC，根据报错内容修改版图，DRC问题的修改主要参考报错内容以及PDK的Design Rules文档
10 .运行LVS，如果原理图和版图是一致的，会显示绿色笑脸
6.4 实验分析
对于W/L很大的晶体管，此时其的栅电阻以及对应的寄生电容都较大，因此在实际设计中会将其设为多 finger 的结构。将其拆分为 finger=2 的 MOS 管后，对应的漏端的结电容 减小了一半。muti-finger晶体管的结构如下：
晶体管的\(W_{total}=W_f\times N_{finger}\)，multi-finger晶体管广泛用于Layout技术中。
进行Layout时，连线需要在正确的Layer中进行，跨Layer的连接需要依靠通孔。每个Layer的简写和名称的对应关系如下表所示：
| Layer简写 | Layer名称 |
|---|---|
| AA | 有源区（Active Area） |
| NW | N阱（N-Well） |
| GT | 多晶硅栅极（Ploy Gate） |
| SN | N型离子注入区（N+ implant） |
| SP | P型离子注入区（P+ implant） |
| CT | 接触孔（Contact） |
| M1 | 金属层1（Metal-1） |
其他层的说明可以参考PDK的Design Rules文档。
常用快捷键：
-
Save ------- 保存编辑(f2)
-
Fit Edit-------全屏显示所画单元（f）
-
Zoom In -------放大 (Shift+z)
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Zoom Out ------- 缩小(Ctrl+z)
-
Stretch ------- 伸缩，拉动图形的边或角(s)
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Copy -------复制编辑 (c)
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Move ------- 移动(m)
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Delete ------- 删除编辑(Del)
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Undo ------- 取消编辑，只能取消一次(u)
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Properties --------编辑目标属性（q）
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Instance--------调用单元器件（i）
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Path -------画等宽线(p)
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Polygon ------- 编辑多边形图形(Shift+p)
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Label--------加入文本信息（l）
-
Rectangle -------编辑矩形图形(r)
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Ruler--------标尺（k）